Nehmadi, Y.: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (17)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Predicting a screen area's perceived importance from spatial and physical attributes

Liron Nehmadi, Joachim Meyer, Yisrael Parmet, Noam Ben-Asher

Журнал:

Journal of the American Society for Information Science and Technology

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.76 MB

english, 2011

2

Accurate Litho Model Tuning Using Design-Based Defect Binning

Vasek, J., Svidenko, V., Nehmadi, Y., Shimshi, R.

Журнал:

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.37 MB

english, 2008

3

Effects of Authentication Method and System Properties on Authentication Decisions and Performance

Nehmadi, L., Meyer, J.

Журнал:

Journal of Cognitive Engineering and Decision Making

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.08 MB

english, 2015

4

SPIE Proceedings [SPIE SPIE 31st International Symposium on Advanced Lithography - San Jose, CA (Sunday 19 February 2006)] Design and Process Integration for Microelectronic Manufacturing IV - Using design intent to qualify and control lithography manufacturing

Vasek, Jim, Wong, Alfred K. K., Singh, Vivek K., Wilkinson, Bill, Reich, Al, Garza, Cesar, Zhao, Joyce, Wiley, Jim, Poyastro, Moshe, Troy, Brian, Nehmadi, Youval, Abraham, Zamir

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 514 KB

english, 2006

5

A comparison of neural network and Bayes recognition approaches in the evaluation of the brainstem trigeminal evoked potentials in multiple sclerosis

Hugo Gutermana, Youval Nehmadi, Andrei Chistyakov, Jean F. Soustiel, Moshe Feinsod

Журнал:

International Journal of Bio-Medical Computing

Рік:

1996

Мова:

english

Файл:

PDF, 797 KB

english, 1996

6

Magnetic pulse compression for a copper vapour laser

Nehmadi, M, Kramer, Z, Ifrah, Y, Miron, E

Журнал:

Journal of Physics D Applied Physics

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 553 KB

english, 1989

7

Classification of brain-stem trigeminal evoked potentials in multiple sclerosis, minor head injuries and post-concussion syndrome pathologies by similarity measurements

Hugo Guterman, Youval Nehmadi, Andrei Chistyakov, Jean Soustiel, Hava Hafner, Moshe Feinsod

Журнал:

International Journal of Medical Informatics

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 173 KB

english, 2000

8

Measurement of partial discharges in hexane under DC voltage

Kelley, E.F., Nehmadi, M., Hebner, R.E., Pace, M.O., Wintenberg, A.L., Blalock, T.V., Foust, J.V.

Журнал:

IEEE Transactions on Electrical Insulation

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 899 KB

english, 1989

9

Serological detection of HBeAg and anti-HBe using automated microparticle enzyme immunoassays

David Robbins, Theodore Wright, Carole Coleman, Linda Umhoefer, Bonnie Moore, Adrian Spronk, Claire Douville, I.K. Kuramoto, Michael Rynning, Deborah Gracey, Vince Salbilla, Friedah Nehmadi, Larry T.

Журнал:

Journal of Virological Methods

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 993 KB

english, 1992

10

[IEEE Eighteenth Convention of Electrical and Electronics Engineers in Israel - Tel Aviv, Israel (7-8 March 1995)] Eighteenth Convention of Electrical and Electronics Engineers in Israel - A comparison of neural network and Bayes recognition approaches to the diagnostic of multiple sclerosis

Nehmadi, Y., Guterman, H.

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 414 KB

english, 1995

11

[IEEE 2006 International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) - Tokyo, Japan (2006.09.25-2006.09.27)] 2006 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing - Method for Fast and Accurate Calibration of Litho Simulator for Hot Spot Analysis

Jank, Stefan, Temchenko, Vlad, Karakatsanis, Paul G, Veerasingam, Ramana, Vallishayee, Rakesh, Dolainsky, Christoph, Yang, Xiaojing, Choi, Bong-Ryoul, Nehmadi, Youval, Poyastro, Moshe

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.81 MB

english, 2006

12

Dehydration tolerance in Awassi fat-tailed sheep

Laden, S., Nehmadi, L., Yagil, R.

Журнал:

Canadian Journal of Zoology

Рік:

1987

Мова:

english

Файл:

PDF, 527 KB

english, 1987

13

[IEEE 2007 International Symposium on Semiconductor Manufacturing - Santa Clara, CA, USA (2007.10.15-2007.10.17)] 2007 International Symposium on Semiconductor Manufacturing - Dynamic defect-limited yield prediction by criticality factor

Svidenko, Vicky, Rinat Shimshi,, Youval Nehmadi,

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.53 MB

english, 2007

14

[IEEE 2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference - Stresa, Italy (2007.06.11-2007.06.12)] 2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) - Identification of Process Window Limiting Structures by Design-Based Defect Binning

Vasek, Jim, Nehmadi, Youval, Svidenko, Vicky, Shimshi, Rinat

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 680 KB

english, 2007

15

[IEEE 1988. Annual Report., Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena - Ottawa, Ont., Canada (16-20 Oct. 1988)] 1988. Annual Report., Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena - Measurement of partial discharges in hexane under DC voltage

Kelley, E.F., Nehmadi, M., Hebner, R.E., Pace, M.O., Wintenberg, A.L., Blalock, T.V., Foust, J.V.

Рік:

1988

Мова:

english

Файл:

PDF, 359 KB

english, 1988

16

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography 2005 - San Jose, CA (Sunday 27 February 2005)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XIX - Design-based metrology: advanced automation for CD-SEM recipe generation

Tabery, C., Silver, Richard M., Capodieci, L., Haidinyak, C., Shah, K., Threefoot, M., Choo, B., Singh, B., Nehmadi, Y., Ofek, C., Menadeva, O., Ben-Porath, A.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 637 KB

english, 2005

17

[IEEE Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena — Annual Report 1987 - Gaithersburg, MD, USA (1987.10.18-1987.10.22)] Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena — Annual Report 1987 - Simultaneous measurement of light emission, current pulses and growth of prebreakdown streamers in hexane

Kelley, E. F., Nehmadi, M., Hebner, R. E., McKenny, P. J., Forster, E. O.

Рік:

1987

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.45 MB

english, 1987